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材料现代测试分析方法

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  • 作者: 刘庆锁,孙继兵,陆翠敏,等 编;
  • ISBN: 9787302374442
  • 出版社: 清华大学出版社
  • 出版时间: 2014-09-01
  • 定价:
  • 包装: 平装
  • 开本: 16开

商品介绍:

  《材料现代测试分析方法》包括X射线衍射分析、电子显微分析两大部分,主要内容包括:X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定、透射电镜结构及其成像原理、电子衍射、图像衬度、衍射运动学分析、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,本书还简要介绍了低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、场离子显微镜与原子探针、扫描隧道与原子力显微镜以及X射线光电子能谱仪等显微分析方法。书中的实例分析引入了材料组织结构研究方面的新成果。书中还附有练习题部分,通过对题目的解答,加深读者对相关概念、原 ...

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