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电子元器件失效分析技术  [电子企业的质量和可靠性工程师,或者对失效分析技术有兴趣的工程技术人员。]

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  • 作者: 恩云飞 著;
  • ISBN: 9787121272301
  • 出版社: 电子工业出版社
  • 出版时间: 2015-11-01
  • 定价:
  • 包装: 平装
  • 开本: 16开

商品介绍:

  《电子元器件失效分析技术》是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。

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