材料科学与工程著作系列：微观组织的分析电子显微学表征（英文版）  HEP Series in Materials Science and Engineering:Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy(AEM)

商品介绍：

《材料科学与工程著作系列：微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》介绍了分析电子显微学（AEM）的基本概念和操作技术，聚集于相恋和形变中位错的AEM研究。同时通过大量的例子阐述衍射晶体学的物理概念和数学分析方法，例如相变中位向关系的定量预测等，以便读者加深理解和拓展视野。
《材料科学与工程著作系列：微观组织的分析电子显微学表征（英文版）》可作为材料科学与工程以及凝聚态物理领域的学者和研究生的参考书。